SEM in DMA (L-314)

V prostoru se nahajata dva aparata:

  • vrstični (scanning) elektronski mikroskop SEM JSM-6060 LV (Jeol, Japonska)
  • dinamični mehanski analizator DMA Q800 (TA Instruments, ZDA)

SEM aparat je namenjen študiju površine, morfologije in topografije površin ter velikosti delcev. Aparat dopolnjuje tudi napraševalnik preparatov z zlatom v primeru neprevodnih materialov. Več o aparatu najdete tukaj.

DMA aparat je namenjen merjenju viskoelastičnih lastnosti raznovrstnih materialov (merjenje Tg in sekundarnih prehodov, vpliv frekvence na module in Tg, vpliv polnil, dodatkov in adhezivov, vpliv tehnoloških procesov, stabilnost dimenzij, lezenje, relaksacije napetosti, termomehanika, napoved obnašanja materiala v širokem frekvenčnem in časovnem območju). Več o aparatu najdete tukaj.

Skip to content

Ooops...

Uporabljate zastarelo / nepodprto različico brskalnika.
Za najboljšo uporabniško izkušnjo, prosimo nadgradite svoj brskalnik ali uporabite alternativne možnosti kot na primer Mozilla Firefox ali Google Chrome.