Izobraževalni cilj predmeta je spoznavanje eksperimentalnih metod za mikroskopiranje materialov. Obravnavane bodo naslednje metode: vrstični elektronski mikroskop (SEM) in mikroanaliza, presevni (transmisijski) elektronski mikroskop (TEM), površinske metode – vrstični tunelski mikroskop (STM), mikroskop na atomsko silo (AFM), nizkoenergijski elektronski uklon (LEED) in Augerjeva emisija (AES).
Uporabljate zastarelo / nepodprto različico brskalnika. Za najboljšo uporabniško izkušnjo, prosimo nadgradite svoj brskalnik ali uporabite alternativne možnosti kot na primer Mozilla Firefox ali Google Chrome.